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半导体参数分析仪4200A-SCS

产品特点:
 内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语
 使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试
 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数
 无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
 用户可配置低电流功能
 个性化输出通道名称
 查看实时测试状态


    4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达 50%,提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。 另外,嵌入式测量专业知识(业界首创)可提供测试指南并让您对结果充满信心。

    4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换,无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同,四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看,可快速完成测试设置,并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。

    简单地说,4200A-SCS 可以完全自定义且全面升级,您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。

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